應(yīng)用低溫試驗(yàn)箱時(shí)可根據(jù)GB 2424.1—《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》的指導(dǎo)選定下列參數(shù)：
a.試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化的速率；
b.試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的時(shí)間；
c.試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下曝露試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)間；
d.試驗(yàn)樣品通電或負(fù)載的時(shí)間。
應(yīng)用低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)對(duì)低溫試驗(yàn)方法給出下列適用的細(xì)節(jié)：
a.預(yù)處理；
b.初始檢測(cè)；
c.安裝或支承的細(xì)節(jié)；
d.條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品（包括冷卻系統(tǒng)）的狀況；
e.嚴(yán)酷程度（溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間）；
f.條件試驗(yàn)期間的測(cè)量和（或）負(fù)載；
g.恢復(fù)（如不是在標(biāo)準(zhǔn)條件下恢復(fù)）；
h.最后檢測(cè)；
i:供需雙方同意的對(duì)低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)程度的任何更改。 |
